玻璃光學(xué)常數測試儀

一種可以同時(shí)測量反射率、透射率的光學(xué)薄膜測厚儀 產(chǎn)品特征 · 易于安裝· 基于視窗結構的軟件，很容易操作· 先進(jìn)的光學(xué)設計，以確保能發(fā)揮出較佳的系統性能· 基于陣列設計的探測器系統，以確�？焖贉y量· 獨特的光源設計，有著(zhù)較好的光源強度穩定性· 較多可測量5層的薄膜厚度和折射率· 在毫秒的時(shí)間內，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數 · 能夠用于實(shí)時(shí)或在線(xiàn)的厚度、折射率測量· 系統配備大量

2011-11-04 0

供應光學(xué)薄膜測厚儀

KMAC 簡(jiǎn)介 K-MAC(株)公司附屬韓國物理性質(zhì)分析研究所,主要開(kāi)發(fā)生產(chǎn)具有高科技含量的 物理化學(xué)分析儀器和應用儀器。K-MAC(株)公司在北京設有分公司，可為您提供 及時(shí)的售前、售后服務(wù)。方便您的研究、生產(chǎn)。 設備簡(jiǎn)介? 1.特點(diǎn) l 操作簡(jiǎn)單易懂 l 非接觸式、非破壞式測量方法 l 可同時(shí)測量多層膜厚度 l 原地測量 l 價(jià) 格合理 2.應用領(lǐng)域 半導體 Pol

2011-09-18 0

供應Low-e玻璃薄膜分析設備-

? ? 可用于分析當今Low-E玻璃中比較流行的單銀、雙銀、三銀玻璃及熱反射產(chǎn)品膜系結構分析， 如NiCr、Cr、Cu、Ag、單晶Si、C、ZnSn、SiAl、ZnAl、TiOX、NbOX、AZO等材料組成的各種膜系機構，可準確F分析測試各膜層的厚度和光學(xué)常數(N、K)。 ? 產(chǎn)品特點(diǎn)： ? 易于安裝 基于視窗結構的軟件，很容易操作 先進(jìn)的光學(xué)設計，以確保能發(fā)揮出較佳

2011-03-16 0