電壓擊穿強度試驗儀的測試過(guò)程可由單片機控制。測試結果顯示在液晶屏上。同時(shí)，數據可以通過(guò)通信端口傳輸到計算機。計算機控制測試過(guò)程并處理測試數據。單片機控制具有明顯的優(yōu)勢。由于不使用電腦，設備的安裝和使用都很簡(jiǎn)單，可以通過(guò)連接電源線(xiàn)進(jìn)行測試。

擊穿電壓是導致電介質(zhì)擊穿的電壓。當電場(chǎng)足夠強時(shí)，電介質(zhì)將失去其介電性質(zhì)而成為導體，稱(chēng)為介質(zhì)擊穿，相應的電壓稱(chēng)為擊穿電壓。介質(zhì)擊穿的電場(chǎng)強度稱(chēng)為擊穿場(chǎng)強。

不同電介質(zhì)在同一溫度下的擊穿場(chǎng)強不同。當電介質(zhì)和電容器兩個(gè)極板之間的距離d固定時(shí)，u1-u2=ed，擊穿電壓由擊穿場(chǎng)強決定。擊穿場(chǎng)強也稱(chēng)為介電強度。介電強度是提高電容器耐壓能力的關(guān)鍵。

電壓擊穿強度試驗儀在測試中會(huì )受到下面這幾種因素的影響：

1、頻率

在擊穿區，如果頻率的變化不改變電場(chǎng)的均勻性，則擊穿電壓幾乎與頻率無(wú)關(guān)。在熱擊穿區，如果頻率和不變，擊穿電壓與頻率的平方根成反比。例如，具有厚度的玻璃在工頻下的擊穿電壓為（RMS），而在高頻下的擊穿電壓僅為（RMS）。由于頻率的增加和介質(zhì)損耗的增加，導致熱擊穿過(guò)程升溫，促進(jìn)了熱擊穿過(guò)程的發(fā)展。

2、溫度

在一定溫度范圍內，固體介質(zhì)的擊穿特性屬于電擊穿，擊穿場(chǎng)強很高，幾乎與溫度無(wú)關(guān)。溫度越高，熱擊穿電壓越低。如果周?chē)橘|(zhì)的溫度也很高，在工作電壓下就有熱擊穿的危險。不同的固體電介質(zhì)具有不同的耐熱性和耐熱等級，因此從電擊穿到熱擊穿的臨界溫度一般是不同的。

更多產(chǎn)品詳情請咨詢(xún)：

http://www.znyq.com/prolist_t2185002.html